製造業者が定格インパルス耐電圧を宣言している場合、インパルス試験（商用周波試験および直流試験のための耐電圧値)による。 なお、インパルス試験の耐電圧値は、JIS
C 8201-1の表12を参照願いたい。
また、定格インパルス耐電圧を宣言していない場合は、定格絶縁電圧に対応する耐電圧値を一分間印加する。なお、定格絶縁電圧の耐電圧値は、JIS C 8201-5-1の表6を参照願いたい。
試験の間、フラッシュオーバ、絶縁破壊など破壊放電の発生がないこと。測定個所は異極端子間、各端子と非充電金属部間、各端子と接地端子間としている。なお、同極端子間については特に規定がなく、一般的にNECA規格の内蔵マイクロスイッチの種類S1、S2に対しては耐電圧値600V、それ以外は耐電圧値1000Vを適用している。
締め付け強度
最大断面面積の導体で、5回脱着する。ねじ端子の締め付けトルクは、JIS C 8201-1の表4で規定された締め付けトルク、または製造業者が指定するトルクの110％の値で、いずれか大きい方の値で締め付けを行う。試験中に締め付け金具や端子部に緩みや損傷がないこと。
2）
ねん回試験
端子に指定された本数の導体を、JIS C 8201-1の表4で規定された締め付けトルク、または製造業者が指定するトルクで締め付け、JIS C 8201-1の図1に示す、ねん回試験装置で試験を行う。
JIS C 8201-1の表5で規定するおもりを導体の先端につるし、10回/min.の回転速度で直径75mmの円を描くように、135回連続回転させる。
試験中に、導体が端子から抜けたり、締め付け具付近で破損のないこと。
3）
引張試験
ねん回試験に引き続き、JIS C 8201-1の表5で規定する引張力を1分間、導体に加える。
試験中に、導体が端子から抜けたり、締め付け具付近で破損のないこと。
なお導体の種類や試験条件など、詳細な規定事項については、JISを参照願いたい。
スイッチにJIS C 8201-1の表8に示すような電線を接続し、定格通電電流を通電し、次に示す方法で測定する。 周囲温度は、スイッチの高さで約1mの距離で、スイッチの周囲に均等に配置した最低ニつの熱電対など
の温度測定器で記録する。試験中、周囲温度は10〜40℃とし、かつ10Kを超える変化がないこと。
試験は、8時間を超えない範囲で温度上昇が十分飽和に達するまで実施される。温度変化が1時間当たり 1Kを超えなくなったとき、飽和状態に達したとみなす。
端子部の温度上昇限度とアクセスできる部分の温度上昇限度については、こちらを参照願いたい。
(5)短絡試験（JIS）
接点素子は、JIS C 8201-1の付図8に示すような単相回路に直列に挿入した別の投入スイッチで電流を投入し、製造業者が指定した短絡保護装置（SCPD）が銅さするまで維持する。試験回路の負荷インピーダンスは、一般的には推定電流が1000A、力率は0.5〜0.7になるように調整する。
試験は、同一接点素子で、3分以上の間隔でSCPDを交換し3回行う。
試験後、電気的及び機械的に異常がないこと。また定格使用電圧（Ue）の2倍の耐電圧試験に耐えること、。ただし、試験電圧は1000V以上とする。詳細な規定事項については、JISを参照願いたい。
