K1Gは、平行光レーザーとCMOSリニアイメージセンサ
の組み合わせで、ワーク位置を高精度に計測できます。

用途
　・フィルムの蛇行計測
　・フィルムのシート厚み計測
　・電子部品の異品種混入
　・ガラス基板の異常判別
　・ウエハアライメント